原文传递
一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统
| 专利名称： | 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统 |
| 摘要： | 一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | GE传感与检测技术有限公司 |
| 发明人： | M·穆斯滕贝克尔;I·施图克 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-07-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201010236738.X |
| 公开号： | CN101963620A |
| 代理机构： | 北京市中咨律师事务所 11247 |
| 代理人： | 杨晓光;张静娟 |
| 分类号： | G01N35/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 德国霍尔特 |
| 主权项： | 一种通过X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10)，包括具有X射线装置(24，25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其中所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和安装在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18)，所述X射线装置(24，25)被设置在所述转子(18)上，所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12)，以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
相关文献
检索历史
应用推荐
