专利名称: |
一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件的系统 |
摘要: |
一种采用X射线自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10),包括具有X射线装置(24,25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)。所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和固定在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18),所述X射线装置(24,25)被设置在所述转子(18)上,所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12),以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
GE传感与检测技术有限公司 |
发明人: |
M·穆斯滕贝克尔;I·施图克 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2010-07-23T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201010236738.X |
公开号: |
CN101963620A |
代理机构: |
北京市中咨律师事务所 11247 |
代理人: |
杨晓光;张静娟 |
分类号: |
G01N35/00(2006.01)I |
申请人地址: |
德国霍尔特 |
主权项: |
一种通过X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的元件(12)的系统(10),包括具有X射线装置(24,25)的测试/测量装置(11)、围绕所述测试/测量装置(11)的保护舱(15)、向所述测试/测量装置(11)连续传送入/出元件(12)的传送装置(13)、和设置为自动控制所述系统(10)以及评估所述X射线信号的控制/评估单元(14),其中所述测试/测量装置(11)包括支架(17)和安装在所述支架(17)上以可连续旋转的转子(18),所述X射线装置(24,25)被设置在所述转子(18)上,所述传送装置(13)被设置为通过所述转子(18)连续传送所述元件(12),以及所述控制/评估单元(14)被设置用于计算机层析X射线成像地评估X射线信号。 |
所属类别: |
发明专利 |