专利名称: | 荧光检测器 |
摘要: | 本发明涉及荧光检测器,以改善样品浓度高时浓度和荧光强度之间关系的非线性,由此提高测量的动态范围。如果已知待测样品的浓度高,则使用在激励光(Lex)的通过方向上孔径(6b)短的光束限制单元(6),使得仅从靠近激励光入射侧的区域发出的荧光被聚光透镜(7)会聚并导入荧光侧分光仪(4)且被检测。在这种情况下,因为从通过样品溶液(S)并且被样品溶液(S)强吸收的激励光之后的区域发出的荧光不反映在测量结果中,所以尽管荧光数量有所减小,但是浓度和荧光强度之间关系的线性得到改善,因而改善了在高浓度下的量化准确性。如果样品浓度低,则使用具有长度在激励光(Lex)的通过方向上长的孔径(6a)的光束限制单元(6)来改善灵敏度。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 株式会社岛津制作所 |
发明人: | 军司昌秀 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2010-08-13T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201010255284.0 |
公开号: | CN101995399A |
代理机构: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: | 李辉;王伶 |
分类号: | G01N21/64(2006.01)I |
申请人地址: | 日本京都府 |
主权项: | 一种荧光检测器,该荧光检测器包括:样品池,其用于保持样品;激励光学系统,其用激励光照射所述样品池;荧光测量光学系统,其用于检测样品响应于激励光而发出的荧光;以及荧光调节光学系统,其包含:光束限制装置,该光束限制装置具有在激励光在所述样品池中的通过方向上具有预定长度的孔径,并且该光束限制装置靠近所述样品池安装,以阻挡样品发出的但不通过所述孔径的荧光;聚光装置,其用于对通过光束限制装置的孔径的荧光进行会聚,并且将该荧光引导到所述荧光测量光学系统,所述光束限制装置和所述聚光装置成对地提供;以及更换机构,其用于更换或切换所述荧光调节光学系统,使得孔径长度能够选自至少2种或更多种类型中的任意一种类型。 |
所属类别: | 发明专利 |