专利名称: | 防眩处理用模具的检查装置 |
摘要: | 本发明涉及一种检查装置,其是用于检测防眩处理用模具表面上的凹状缺陷及/或凸状缺陷的检查装置,其具有:用于对模具表面照射第一光的第一照明器材;用于对模具表面照射第二光的第二照明器材;用于采集关于包含被照射第一光及第二光的区域的模具表面的一部分的区域的图像的二维摄像设备;用于控制第一光及第二光的强度的光强度控制机构;用于运算所述图像上的预先指定的点的亮度和关于该预先指定的点预先指定的亮度或亮度范围之差的运算机构。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 住友化学株式会社 |
发明人: | 藤井贵志 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2010-08-25T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201010263828.8 |
公开号: | CN101995409A |
代理机构: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人: | 朱丹 |
分类号: | G01N21/88(2006.01)I |
申请人地址: | 日本国东京都 |
主权项: | 一种模具的检查装置,其用于检测防眩处理用模具表面上的凹状缺陷及/或凸状缺陷,其特征在于,具有:用于对所述模具表面照射第一光的第一照明器材;用于对所述模具表面照射第二光的第二照明器材;二维摄像设备,其用于采集包含被照射所述第一光及所述第二光的区域的模具表面的一部分区域的图像;用于控制所述第一光及所述第二光的强度的光强度控制机构;运算机构,其用于运算由所述二维摄像设备取得的图像上的预先指定的点的亮度与关于所述点而预先指定的亮度或预先指定的亮度范围之差。 |
所属类别: | 发明专利 |