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原文传递同时测量灰分和水分的测量装置

专利名称：	同时测量灰分和水分的测量装置
摘要：	本发明提出一种同时测量灰分和水分的测量装置，包括：机箱；放射源和微波发射/接收天线；测量台，所述测量台位于所述放射源和微波发射/接收天线之上；探测器和微波接收/发射天线；微波源，所述微波源接入微波网络，所述微波网络分别与所述微波发射天线和所述微波接收天线相连；和计算机，所述计算机分别于所述探测器和所述微波网络相连，所述计算机根据所述探测器探测的射线衰减信息测量物料的灰分，以及根据射线衰减信息和微波衰减信息测量所述物料的水分。本发明利用γ射线衰减测量技术，扫描测量整个物料样品，得到物料样品的平均质量厚度，并用该质量厚度校正计算样品水分，从而大大提高了水分测量的准确度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学
发明人：	林谦;梁漫春;衣宏昌;张志康
专利状态：	有效
申请日期：	2010-08-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201010267596.3
公开号：	CN101975783A
代理机构：	北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：	张大威
分类号：	G01N22/00(2006.01)I
申请人地址：	100084 北京市100084-82信箱
主权项：	一种同时测量灰分和水分的测量装置，其特征在于，包括：机箱；放射源和微波发射/接收天线，所述放射源和微波发射/接收天线位于所述机箱底部；测量台，所述测量台位于所述放射源和微波发射/接收天线之上，且所述测量台可在所述放射源和微波发射/接收天线之上切换；探测器和微波接收/发射天线，所述探测器和微波接收/发射天线位于所述测量台之上，且所述探测器和所述放射源中心同轴，所述微波接收天线与所述微波发射天线中心同轴；微波源，所述微波源接入微波网络，所述微波网络分别与所述微波发射天线和所述微波接收天线相连；和计算机，所述计算机分别于所述探测器和所述微波网络相连，所述计算机根据所述探测器探测的射线衰减信息测量物料的灰分，以及根据射线衰减信息和微波衰减信息测量所述物料的水分。
所属类别：	发明专利