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原文传递 一种非接触式物位测量装置
专利名称: 一种非接触式物位测量装置
摘要: 一种非接触式物位测量装置,包括容器、放射源以及核仪表,所述放射源和核仪表设置在容器的两侧,所述核仪表用于检测放射源辐射出的放射线,容器内放置有物料,所述物料能够削弱放射源所辐射出的放射线,所述放射源为含有钾元素的化合物。本发明的优点在于,采用钾元素作为放射源,利用钾的放射性同位素钾40在天然钾元素中有一定的丰度,且钾40衰变发出的γ射线能量高,半衰期长的特性,既能够避免采用普通材料做放射源的不确定性,又能够避免采用铯、钴等放射性物质对人体造成的潜在损害。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 上海;31
申请人: 上海辉博自动化仪表有限公司
发明人: 郭云昌;朱敏娟
专利状态: 有效
申请日期: 2010-09-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201010296378.2
公开号: CN101936923A
代理机构: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218
代理人: 翟羽
分类号: G01N23/00(2006.01)I
申请人地址: 200063 上海市普陀区武宁路305号
主权项: 一种非接触式物位测量装置,包括容器、放射源以及核仪表,所述放射源和核仪表设置在容器的两侧,所述核仪表用于检测放射源辐射出的放射线,容器中放置有物料,所述物料能够削弱放射源所辐射出的放射线,其特征在于,所述放射源为含有钾元素的化合物。
所属类别: 发明专利
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