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少子寿命对高压FRD和IGBT特性影响的研究
| 论文题名： | 少子寿命对高压FRD和IGBT特性影响的研究 |
| 关键词： | 少子寿命;高压;IGBT |
| 作者： | 赵国伟 |
| 专业： | 电子科学与技术;物理电子学 |
| 导师： | 马丽 |
| 授予学位： | 硕士 |
| 授予学位单位： | 西安理工大学 |
| 学位年度： | 2022 |
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| 论文题名： | 少子寿命对高压FRD和IGBT特性影响的研究 |
| 关键词： | 少子寿命;高压;IGBT |
| 作者： | 赵国伟 |
| 专业： | 电子科学与技术;物理电子学 |
| 导师： | 马丽 |
| 授予学位： | 硕士 |
| 授予学位单位： | 西安理工大学 |
| 学位年度： | 2022 |