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一种金属薄膜镀层结合质量检测方法
| 专利名称： | 一种金属薄膜镀层结合质量检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及金属镀膜技术，提供了一种金属薄膜镀层结合质量的检测方法，包括，使用维氏硬度计对待测试样品进行压痕加载；将观察到的压痕点的镀层形貌与参考图谱进行比对，评定镀层结合质量级别。采用本发明的技术方案，对尺寸的限制小，能适合薄材和小尺寸样品镀层结合质量的研判，也能进行大尺寸样品的测试；使用维氏压头对样品进行加载，可使用维氏硬度计测试，能实现近似无损测试，不影响产品整体外观；使用维氏硬度计进行压痕测试，可以精确控制加载载荷的大小、加载速度、载荷保持时间，受测试条件的影响小，测试的重复好；最后，该方案可直接用标准的微显微硬度维氏硬度计实现测试，操作简便快捷，不需要使用专门仪器，经济实用，通用性好。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 发明人： | 郑镇嵘;宋好强;李二勇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-11-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110378711.9 |
| 公开号： | CN102507355A |
| 代理机构： | 深圳市爱派知识产权事务所 44292 |
| 代理人： | 冯艳民 |
| 分类号： | G01N3/42(2006.01)I |
| 申请人地址： | 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 |
| 主权项： | 一种金属薄膜镀层结合质量的检测方法，其特征在于，包括，使用维氏硬度计对待测试样品进行压痕加载；将观察到的压痕点的镀层形貌与参考图谱进行比对，评定镀层结合质量级别。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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