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室外高光谱图像采集系统中太阳光源的校正方法
| 专利名称： | 室外高光谱图像采集系统中太阳光源的校正方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种室外高光谱图像采集系统中太阳光源的校正方法，包括：测量太阳光源下反射率为100％的漫反射标准板的辐射强度，移动平均平滑处理得到平滑辐射强度，计算平滑辐射强度减去辐射强度的值得到绝对误差，经标准化变换得到标准化误差；将标准化误差值大于3％时所处波长和绝对误差值作为误差校正基准波长和误差校正基准，采用人工照明装置在误差校正基准波长补充提供等同于误差校正基准值的辐射强度，完成对太阳光源的辐射校正。本发明步骤简单、使用方便，可快速地实现太阳光源的校正，具有良好的经济效益，可用于有效地获取室外太阳光源下作物的高光谱图像信息，实现室外、田间高光谱图像采集系统的优化。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江大学 |
| 发明人： | 李晓丽;聂鹏程;何勇;鲍一丹;裘正军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-11-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110375474.0 |
| 公开号： | CN102507458A |
| 代理机构： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
| 代理人： | 周丽娟 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I |
| 申请人地址： | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |
| 主权项： | 一种室外高光谱图像采集系统中太阳光源的校正方法，其特征在于，包括：(1)测量太阳光源下反射率为100％的漫反射标准板的辐射强度；(2)对步骤(1)得到的漫反射标准板的辐射强度进行移动平均平滑处理，得到平滑辐射强度，其中移动平滑平均的窗口大小为3、5、7、9、11、13或15；(3)计算所述平滑辐射强度减去所述辐射强度得到的值，为平滑辐射强度与辐射强度之间的绝对误差；(4)对所述绝对误差进行标准化变换得到标准化误差，所述标准化变换为将绝对误差除以辐射强度的最大值与最小值之差值；(5)将所述标准化误差值大于3 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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