专利名称: |
钛白粉遮盖力的测定方法 |
摘要: |
本发明涉及一种钛白粉遮盖力的测定方法,属于钛白粉生产领域。本发明提供了一种钛白粉遮盖力的测定方法,具体步骤为:A将清漆与钛白粉试样搅拌混匀成钛白粉漆浆;B分别将钛白粉漆浆涂刷在白板和黑板上形成涂膜,将涂膜室温下自然风干;C分别测定涂膜后的白板和黑板上的反射率,以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得对比率,以此表征钛白粉的遮盖力。利用本发明方法测定钛白粉样品的遮盖力,其结果精确度较高,且操作简便易行,分析过程快捷有效。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
攀枝花鼎星钛业有限公司 |
发明人: |
杜长山;吴桂兰;郭靖瑜;梁秀梅;刘燕珍 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2011-11-10T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201110354783.X |
公开号: |
CN102507505A |
代理机构: |
成都虹桥专利事务所 51124 |
代理人: |
武森涛 |
分类号: |
G01N21/55(2006.01)I |
申请人地址: |
617009 四川省攀枝花市银江镇高梁坪工业园区攀枝花鼎星钛业有限公司 |
主权项: |
钛白粉遮盖力的测定方法,具体步骤为:A将清漆与钛白粉试样搅拌混匀成钛白粉漆浆;B分别将钛白粉漆浆涂刷在白板和黑板上形成涂膜,将涂膜室温下风干;C分别测定涂膜后的白板和黑板上的反射率,以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得对比率,以此表征钛白粉的遮盖力。 |
所属类别: |
发明专利 |