专利名称: |
色谱柱短化后在程序升温下气相色谱的保留时间的预测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种色谱柱短化后在程序升温下气相色谱保留时间的预测方法。该方法过程包括:首先确定原长色谱柱在任意温度点对应的死时间和容量因子、并以苯为标准物校正短化后色谱柱的塔板数;再次在程序升温下,预测组分在短化后色谱柱中的保留时间;然后根据预测步骤中确定的程序升温,测定组分在短化后的色谱柱上的保留时间;最后计算预测组分的保留时间的相对偏差,当相对偏差的绝对值小于2%时,认为预测精度达到要求。本发明优点:节约了实验成本,降低了分析工作的强度,为短柱的气相色谱最佳分离条件的选择提供了可行途径,预测过程清晰、明了、适合大范围地普及应用。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
天津大学 |
发明人: |
范国樑;张兰兰;皇甫旭丹;敖敏 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2011-09-26T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201110286568.0 |
公开号: |
CN102507813A |
代理机构: |
天津市杰盈专利代理有限公司 12207 |
代理人: |
王小静 |
分类号: |
G01N30/86(2006.01)I |
申请人地址: |
300072 天津市南开区卫津路92号 |
主权项: |
一种色谱柱短化后在程序升温下气相色谱的保留时间的预测方法,该方法以非线性塔板理论为基础,针对HP?6890气相色谱仪配置的HP?5毛细管色谱柱,运用色谱柱短化前的长柱原有的恒温保留时间,预测程序升温下组分在短化后色谱柱中的气相色谱保留时间,其特征在于包括以下过程:1)确定原长色谱柱在任意温度点对应的死时间和容量因子:(1)确定原长色谱柱任意温度点对应的死时间tMj?1的值:将在温度30℃、50℃、100℃、150℃、200℃和250℃六个温度点下测得甲烷的保留时间作为死时间,将六个温度点的死时间与相应的温 |
所属类别: |
发明专利 |