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一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法
| 专利名称： | 一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法。该方法包括如下步骤：在基底上蒸镀金膜，在所述质谱仪器中用激光轰击所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基质、待测样品或基质与待测样品的混合物后，在所述质谱仪器中用激光轰击所述涂覆待测样品的金膜、涂覆所述基质的金膜或涂覆所述基质与待测样品的混合物的金膜，将得到的离子经所述质谱仪器分析得到质谱谱图，根据金簇的理论质量即可对质谱仪器和/或待测样品的分子质量进行校正。本发明提供的方法可以分别进行正和负电荷校正；由于利用了没有同位素的金簇，可以记录到一系列质荷比相差197的离子峰，再利用金的准确的理论质量，可以准确标定质谱仪器信号和样品的分子质量，其偏差可以降到5ppm以下。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院化学研究所 |
| 发明人： | 陈义;李晋成;马力坡 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-01T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110392477.5 |
| 公开号： | CN102507722A |
| 代理机构： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
| 代理人： | 关畅 |
| 分类号： | G01N27/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区中关村北一街2号 |
| 主权项： | 一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法，包括如下步骤：在基底上蒸镀金膜，在所述质谱仪器中用激光轰击所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基质、待测样品或基质与待测样品的混合物后，在所述质谱仪器中用激光轰击所述涂覆待测样品的金膜、涂覆所述基质的金膜或涂覆所述基质与待测样品的混合物的金膜，将得到的离子经所述质谱仪器分析得到质谱谱图，根据金簇的理论质量即可对质谱仪器和/或待测样品的分子质量进行校正。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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