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一种用于复杂形廓超声扫查的A/B轴
| 专利名称： | 一种用于复杂形廓超声扫查的A/B轴 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于复杂结构的超声A/B轴检测装置，实现超声检测装置的五轴联动，用于各种复杂表面的超声检测。要实现检测时传感器中心轴线与被测材料表面垂直，传统的三轴直线运动无法满足要求，通过A/B轴装置可以实现任意角度转动从而满足要求，提高了检测精度和可靠性。本发明特别适合复杂表面的检测，如斜面、管道曲面、凹槽等。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京理工大学 |
| 发明人： | 徐春广;夏沙;王洪博;郭祥辉;肖定国;赵新玉;郝娟;阎红娟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-11-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110360344.X |
| 公开号： | CN102507749A |
| 分类号： | G01N29/26(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |
| 主权项： | 一种用于液浸超声无损扫查的A/B轴装置，包括步进电机，联轴器，直齿圆柱齿轮，直齿锥齿轮，套筒轴，传动轴，机座，探头座，限位开关等结构。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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