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微流控芯片光电检测光源稳定性自动修正补偿方法与系统
| 专利名称： | 微流控芯片光电检测光源稳定性自动修正补偿方法与系统 |
| 摘要： | 本发明公开一种微流控芯片光电检测光源稳定性自动修正补偿方法与系统，用BP神经网络算法在计算机中建立光谱瞬态微变预测模型和光谱稳态微变预测模型；光源发出的光依次通过射狭缝、第一凹面镜、全息光栅、第二凹面镜、出射狭缝及平面反射镜反射到微流控芯片的检测区的样品上，再经过汇聚透镜的汇聚后由光电倍增管接收，最后通过多路A/D转换电路将原始光谱数据传送至计算机；计算机将原始光谱数据减去光谱瞬态变量值以及光谱稳态微变量值得到精确的吸光度数据；简化了电路的复杂度，节省了能耗，只需采集若干参数直接送至计算机进行数据修正，针对微流控芯片的检测不同对象，通过改变数据修正的算法，可以灵活、有效地提高检测精度。? |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏大学 |
| 发明人： | 张荣标;杨宁;徐长琴 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-13T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110413892.4 |
| 公开号： | CN102519878A |
| 代理机构： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
| 代理人： | 楼高潮 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I |
| 申请人地址： | 212013 江苏省镇江市京口区学府路301号 |
| 主权项： | 一种微流控芯片光电检测光源稳定性自动修正补偿方法，其特征是采用如下步骤：A、通过已知电源的电压微变量、电流微变量以及温度微变量建立吸光度瞬态变化检测试验，将吸光度瞬态变化检测试验结果连同电压微变量、电流微变量以及温度微变量作为输入利用BP神经网络算法在计算机（5）中建立光谱瞬态微变预测模型（17）；通过已知光源的工作总时间、单次工作时间建立吸光度稳态变化检测试验，将吸光度稳态变化检测试验结果连同工作总时间、单次工作时间作为输入利用BP神经网络算法在计算机（5）中建立光谱稳态微变预测模型（18）；B、将样品 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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