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谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法
| 专利名称： | 谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种气体组分的测定方法，尤其涉及采用DOAS测量气体组分中差分吸收光谱测量中的光谱漂移修正方法。本发明将信号谱的偏移作为系统的固有吸收结构来看，则在做最小二乘多元线性回归计算污染物含量时，将该结构作为“污染物”的吸收截面参与计算，则同样可以将特定的灯谱在固定的偏移量上造成的吸收信号畸变影响扣除，从而得到正确的污染物浓度含量。采用该方法处理后，谱线偏移对吸收谱的影响显著降低，对最终DOAS计算的拟合结果的影响也基本消除。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 杭州微兰科技有限公司 |
| 发明人： | 朱坚磊;邵乐骥;徐雷;陈科;龚真;项震 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-08T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110405158.3 |
| 公开号： | CN102519892A |
| 代理机构： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 |
| 代理人： | 王从友 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I |
| 申请人地址： | 310023 浙江省杭州市紫荆花路38号古荡科技经济园内 |
| 主权项： | 谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法，其特征在于该方法将谱线偏移带来的吸收结构作为一种污染物的吸收截面，参与多元最小二乘线性回归计算： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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