专利名称: | 高温超导带材弯曲特性测量装置 |
摘要: | 本发明涉及一种高温超导带材弯曲特性测量装置,包括:高温超导带材测量电流提供部分;高温超导带材弯曲半径提供部分;高温超导带材电压测量部分;液氮容器;及控制器,用于控制高温超导带材测量电流提供部分、高温超导带材弯曲半径提供部分、高温超导带材电压测量部分的操作,以获得高温超导带材的弯曲特性。本发明中,高温超导带材弯曲半径提供部分包括无阶跃弯曲半径提供部件,被测量的高温超导带材在进行测量过程中保持贴在无阶跃弯曲半径提供部件的外表面上,从而在无阶跃弯曲半径提供部件移动时能使被测量的高温超导带材获得预定弯曲半径范围内的连续变化的弯曲半径。通过本发明的装置,能够以高精确进行高温超导带材弯曲特性测量。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 中国科学院电工研究所 |
发明人: | 许熙;戴少涛;肖立业 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2011-12-04T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201110397722.1 |
公开号: | CN102520017A |
代理机构: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
代理人: | 关玲 |
分类号: | G01N27/00(2006.01)I |
申请人地址: | 100190 北京市海淀区中关村北二条6号 |
主权项: | 一种高温超导带材弯曲特性测量装置,包括:高温超导带材测量电流提供部分,该高温超导带材测量电流提供部分用于向被测量的高温超导带材(15)供应测量电流;高温超导带材弯曲半径提供部分,该高温超导带材弯曲半径提供部分用于使被测量的高温超导带材(15)弯曲,以使之具有预定的弯曲半径;高温超导带材电压测量部分,用于测量处于预定的弯曲半径下的高温超导带材(15)的电压;液氮容器(32),用于存储预定量的液氮,并且所述高温超导带材测量电流提供部分、所述高温超导带材弯曲半径提供部分和所述高温超导带材电压测量部分由所述液氮容 |
所属类别: | 发明专利 |