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原文传递 OLED接触阻抗测试组件

专利名称：	OLED接触阻抗测试组件
摘要：	本发明公开了一种OLED接触阻抗测试组件，其包括：位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；设置于OLED面板边缘的多个测试点；连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述测试点和所述连接线采用所述连接线部分重叠于所述测试点上方的方式连接，所述OLED阴极材料层和所述连接线采用所述OLED阴极材料层部分重叠于所述连接线上方的方式连接。本发明的OLED接触阻抗测试组件可以快速测试OLED面板内部不同组件的接触阻抗，通过阻抗的测量可以在复杂的OLED面板内部快速定位存在的问题。
专利类型：	发明专利
申请人：	上海和辉光电有限公司
发明人：	许嘉哲
专利状态：	有效
申请日期：	2014-08-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201410431193.6
公开号：	CN104198817A
代理机构：	上海唯源专利代理有限公司 31229
代理人：	曾耀先
分类号：	G01R27/02(2006.01)I
申请人地址：	201508 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室
主权项：	一种OLED接触阻抗测试组件，设置于OLED面板上，其特征在于，包括：位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；设置于OLED面板边缘的多个测试点；连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述测试点和所述连接线采用所述连接线部分重叠于所述测试点上方的方式连接，所述OLED阴极材料层和所述连接线采用所述OLED阴极材料层部分重叠于所述连接线上方的方式连接。
所属类别：	发明专利