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ID编码误差判读尺及判读方法
| 专利名称： | ID编码误差判读尺及判读方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种ID编码误差判读尺及判读方法。其中，误差判读尺包括：对照本体、设于对照本体上极限边界、以及位于极限边界之内的二维检验矩阵图。极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸，二维检验矩阵图具有用于判读ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。判读方法包括以下简要步骤：1)监视器拍摄成像；2)制作同比例ID编码误差判读尺；3)将对照本体与拍摄图像进行对比；4)依据判定准则排除具有不合格ID编码的产品。本发明通过一具有单体限定尺寸及界定尺寸的测量工具作为检测标准，以有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。本发明优点在于：直观简便、效果明显。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 发明人： | 吴韦良;徐勇;邱圣富;邱宗文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2014-05-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201410230672.1 |
| 公开号： | CN104006742A |
| 代理机构： | 上海唯源专利代理有限公司 31229 |
| 代理人： | 曾耀先 |
| 分类号： | G01B11/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 201508 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室 |
| 主权项： | 一种ID编码误差判读尺，其特征在于包括：具有极限边界的对照本体,所述极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸；以及设于所述对照本体上、且位于所述极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图，所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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