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一种表征微控制器内核工作负载情况的方法
| 专利名称： | 一种表征微控制器内核工作负载情况的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种表征微控制器内核工作负载情况的方法，包括在所述微控制器中设置一个标志位；根据程序段对于所述微控制器内核的访问量在程序段中设置标志位数据；所述微控制器内核运行在执行所述程序段时，根据所述程序段的标志位数据改变所述标志位；在所述微控制器执行完所述程序段之后恢复所述标志位。本发明采用微控制器内的标志位表征微控制器内核工作负载情况，不附加采用物理方案表征微控制器内核工作负载，减小了芯片的表面积。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 上海新储集成电路有限公司 |
| 发明人： | 景蔚亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2013-04-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201310134229.X |
| 公开号： | CN103226508A |
| 代理机构： | 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 |
| 代理人： | 董红曼 |
| 分类号： | G06F11/32(2006.01)I |
| 申请人地址： | 201506 上海市金山区天工路285弄10号楼东单元 |
| 主权项： | 一种表征微控制器内核工作负载情况的方法，其特征在于，包括：步骤一：在所述微控制器中设置一个标志位，所述标志位用于表征所述微控制器内核工作负载状态；步骤二：根据程序段对于所述微控制器内核的访问量在程序段中设置标志位数据；步骤三：所述微控制器内核运行在执行所述程序段时，根据所述程序段的标志位数据改变所述标志位，以标识所述微控制器内核工作负载为低负载状态或高负载状态；步骤四：在所述微控制器执行完所述程序段之后恢复所述标志位。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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