详情

原文传递按键老化测试装置

专利名称：	按键老化测试装置
摘要：	本实用新型涉及移动通信领域，公开了一种按键老化测试装置，它包括支架、动力杆和按压装置；支架用于放置待测试的设备，动力杆与按压装置连接，并设于支架上对应待测试设备按键的位置；其中，按压装置包括夹头件和夹持于夹头件上的数个按压头。相对于现有技术而言，本实用新型通过在按压装置上装设夹头件，利用夹头件分离出多个按压头的形式，使得单个动力杆同通过多个按压头之间传动连接，提高了动力杆的利用率，从而降低了生产成本，提高了测试效率。
专利类型：	实用新型专利
申请人：	上海与德通讯技术有限公司
发明人：	吴作辉
专利状态：	有效
申请日期：	2015-04-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201520274226.0
公开号：	CN204789922U
代理机构：	上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260
代理人：	成丽杰
分类号：	G01R31/327(2006.01)I
申请人地址：	201506 上海市金山区通业路218号3幢2层
主权项：	一种按键老化测试装置，其特征在于，包括支架、动力杆和按压装置；所述支架用于放置待测试的设备，所述动力杆与所述按压装置连接，并设于所述支架上对应所述待测试设备按键的位置；其中，所述按压装置包括夹头件和夹持于所述夹头件上的N个按压头，所述N大于或等于2。
所属类别：	实用新型