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原文传递一种磁场测量分析装置

专利名称：	一种磁场测量分析装置
摘要：	本实用新型涉及一种通过霍尔探头的磁场测量分析装置。包括机架装置、安装在机架装置顶端的横向移动装置，安装在机架装置上端且与横向移动装置成“十”字交叉联接的纵向移动装置，随横向移动装置左右移动且随纵向移动装置上下移动的霍尔探针，在所述横向移动装置上设有横向刻度尺，在所述纵向移动装置上设有纵向刻度尺，通过高斯仪上的霍尔探头的霍尔效应对磁铁表面分不同需要进行定点法进行磁场测量，采集不同点的磁场强度，并通过相应的软件绘制出磁场的曲线图，根据测量获得的磁钢排布的磁场均匀性，可用于磁钢的安装及调整，提高了磁场排布的均匀性，具有测量过程方面快捷、测量结果精确、稳定可靠等特点。
专利类型：	实用新型专利
申请人：	上海子创镀膜技术有限公司
发明人：	魏庆瑄;张俊峰;李桂良
专利状态：	有效
申请日期：	2013-12-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201320857596.8
公开号：	CN203616462U
代理机构：	上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243
代理人：	陈贞健
分类号：	G01R33/07(2006.01)I
申请人地址：	201506 上海市金山区亭林镇金飞路808号
主权项：	一种磁场测量分析装置，其特征在于，包括机架装置（1）、安装在机架装置(1)顶端的横向移动装置(2)，安装在机架装置(2)上端且与横向移动装置（2）成“十”字交叉联接的纵向移动装置（3），随横向移动装置（2）左右移动且随纵向移动装置(3)上下移动的霍尔探针（13），在所述横向移动装置（2）上设有横向刻度尺（4），在所述纵向移动装置（3）上设有纵向刻度尺（5）。
所属类别：	实用新型