原文传递
一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置
| 专利名称： | 一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置 |
| 摘要： | 一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置，所述方法包括：1)将待测颗粒物样品以恒定速度流过散射腔测试区，激光经偏振处理后照射测试区；使入射激光偏振态为水平线偏振，测量入射光经当前颗粒物散射后特定角度散射光的Stokes向量(S0,S1,S2,S3)T，计算Hdop作为反映颗粒物形态的主指标，计算Pdop作为反映颗粒物吸收的主指标，计算Rdop作为反映颗粒物成分的主指标；3)使入射激光偏振态为45°线偏振，其余操作同步骤2)；4)使入射激光偏振态为右旋圆偏振，其余操作同步骤2)；5)通过获得的指标集，分析出当前颗粒物的综合属性。本发明的方法可实现对颗粒物的综合属性进行在线快速全方位分析。此外，本发明的装置可以最大化减少探测器的数量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 发明人： | 曾楠;展东剑;何永红;马辉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810362488.0 |
| 公开号： | CN108844865A |
| 代理机构： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 |
| 代理人： | 王震宇 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02;G01N15/00 |
| 申请人地址： | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区 |
| 主权项： | 1.一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将待测颗粒物样品以恒定速度流过散射腔测试区，使用不同波长的两路激光经偏振处理后照射所述测试区；2)使入射激光偏振态为水平线偏振，测量入射光经当前颗粒物散射后特定角度散射光的Stokes向量(S0,S1,S2,S3)T，计算Hdop作为反映颗粒物形态的主指标，计算Pdop作为反映颗粒物吸收的主指标，计算Rdop作为反映颗粒物成分的主指标；3)使入射激光偏振态为45°线偏振，其余操作同步骤2)；4)使入射激光偏振态为右旋圆偏振，其余操作同步骤2)；5)通过获得的指标集，分析出当前颗粒物的综合属性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
