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原子发射光谱分析测量铝合金中微量铍的方法
| 专利名称： | 原子发射光谱分析测量铝合金中微量铍的方法 |
| 摘要： | 一种铝合金中微量铍的测量方法，采用摄谱仪进行以下步骤：1）以高纯铜或高纯碳作为上电极，铍光谱标样/铝合金试样作为下电极，铍光谱标样任选型号为LF2、LY2、LY4、LC10铝合金中的三种或四种，上电极设置为锥度是30‑70°的平顶锥体，平顶锥体的顶面为直径是0.5‑4.0mm的放电平面，下电极与放电平面相对的端面设置为平面，极距为1.7‑2.5mm，摄谱仪狭缝宽度为20‑30μm，预燃10‑20s、曝光13‑16s，在20±1℃条件下显影4‑7min、定影6‑10min，通过感光板记录各铍光谱标样/铝合金试样的铍光谱线；2）通过各铍光谱标样的铍光谱线绘制为标准曲线，将铝合金试样的铍光谱线代入标准曲线中，得到铝合金试样中微量铍的含量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 颜长明 |
| 发明人： | 颜长明;程淇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810180111.3 |
| 公开号： | CN108844945A |
| 代理机构： | 重庆志合专利事务所(普通合伙) 50210 |
| 代理人： | 胡荣珲 |
| 分类号： | G01N21/67(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/67 |
| 申请人地址： | 401326 重庆市九龙坡区西彭镇渝西交易城10栋1单元2-1 |
| 主权项： | 1.一种原子发射光谱分析测量铝合金中微量铍的方法，其特征在于，采用摄谱仪进行以下步骤：1）以高纯铜或高纯碳作为上电极，铍光谱标样/铝合金试样作为下电极，其中，铍光谱标样型号为LF2、LY2、LY4、LC10铝合金，上电极设置为锥度是30‑70°的平顶锥体，平顶锥体的顶面为直径是0.5‑4.0mm的放电平面，下电极与放电平面相对的端面设置为平面，上电极的放电平面与下电极的平面对应且极距为1.7‑3.0mm，设置摄谱仪狭缝宽度为20μm，预燃10‑15s、曝光10‑15s，在20±1℃条件下显影4‑7min、定影5‑10min，通过感光板记录各铍光谱标样/铝合金试样的铍光谱线；2）通过各铍光谱标样的铍光谱线绘制为标准曲线，将铝合金试样的铍光谱线代入标准曲线中，得到铝合金试样中微量铍的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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