专利名称: |
一种屏幕检测方法及检测系统 |
摘要: |
本发明公开了一种屏幕检测方法,可实现液晶屏点、线和Mura等常见点灯缺陷的检测,包括:通过将待检测屏幕内X轴、Y轴方向上的样本像素灰度值对应于正常屏幕内X轴、Y轴方向上的对照像素灰度值周期做差,当差值大于预设值,即样本像素灰度值的变化量大于预设值时,则判定为屏幕点、线缺陷。还包括:采用人工智能检测方法检测屏幕的Mura缺陷。本发明还提供了一种屏幕检测系统,包括检测区,所述检测区包括:采集装置、储存装置、判断装置以及视觉对位装置。本发明提供一种屏幕检测方法,通过周期算法、人工智能检测方法检测屏幕的点缺陷、线缺陷以及Mura缺陷,同时,本发明还提供了一种屏幕检测系统,提高了屏幕检测的效率、精度以及信息化程度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广东速美达自动化股份有限公司 |
发明人: |
谢宴武;曾毅;钟鹏;熊伟 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810746927.8 |
公开号: |
CN108844966A |
代理机构: |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人: |
张春水;唐京桥 |
分类号: |
G01N21/956(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G;G01;G02;G01N;G02F;G01N21;G02F1;G01N21/956;G02F1/13 |
申请人地址: |
523000 广东省东莞市长安镇霄边平谦工业中心A栋二楼五区 |
主权项: |
1.一种屏幕检测方法,其特征在于,包括点、线缺陷检测方法,所述点、线缺陷检测方法包括如下步骤:采集正常屏幕图像,通过图像处理得到对照图像,获取对照图像在X轴方向以及Y轴方向上的对照像素灰度值周期;采集待检测屏幕图像,通过图像处理得到样本图像,获取待检测屏幕图像在X轴方向以及Y轴方向上的样本像素灰度值;将所述样本像素灰度值与所述像素灰度值周期内的对照像素灰度值一一做差,当样本像素灰度值对应的差值大于预设值时,则判定为点、线缺陷。 |
所属类别: |
发明专利 |