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一种快速准确监测玻璃氧化还原性的方法
| 专利名称： | 一种快速准确监测玻璃氧化还原性的方法 |
| 摘要： | 本发明一种快速准确监测玻璃氧化还原性的方法，包括：步骤1，制备一系列不同Fe2+及Fe3+含量的标准玻璃基板样品，测量其Fe2+及Fe3+含量及紫外‑可见吸收光谱，拟合获得Fe2+含量与Fe2+吸收峰积分面积的关系，以及Fe3+含量与Fe3+吸收峰积分面积的关系；步骤2，将多块玻璃基板叠放在一起，测量其紫外‑可见吸收光谱；步骤3，对紫外‑可见吸收光谱中Fe2+及Fe3+的吸收峰分别进行积分，根据Fe2+及Fe3+含量与紫外‑可见吸收光谱吸收峰积分面积的关系计算Fe2+和Fe3+的含量及Fe2+/Fe3+比值。本发明能够快速准确的监测玻璃氧化还原性，为玻璃生产过程中原料和气氛的控制提供实验依据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 彩虹显示器件股份有限公司 |
| 发明人： | 谢长征;祖琳;徐莉华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810820038.1 |
| 公开号： | CN108872114A |
| 代理机构： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
| 代理人： | 徐文权 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31 |
| 申请人地址： | 712021 陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段 |
| 主权项： | 1.一种快速准确监测玻璃氧化还原性的方法，其特征在于，包括如下步骤，步骤1，制备一系列不同Fe2+及Fe3+含量的标准玻璃基板样品，测量其Fe2+及Fe3+含量，并测量其紫外‑可见吸收光谱，拟合获得Fe2+含量与Fe2+吸收峰积分面积的关系，以及Fe3+含量与Fe3+吸收峰积分面积的关系；步骤2，将多块玻璃基板叠放在一起，测量其紫外‑可见吸收光谱；步骤3，对步骤2得到的紫外‑可见吸收光谱中Fe2+及Fe3+的吸收峰分别进行积分，得到Fe2+及Fe3+吸收峰积分面积，根据步骤1中得到的Fe2+及Fe3+含量与紫外‑可见吸收光谱吸收峰积分面积的关系，计算Fe2+和Fe3+的含量，并计算Fe2+/Fe3+比值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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