专利名称: |
一种基于红外差谱技术的纳米纤维素薄膜含水率测量方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于红外差谱技术的纳米纤维素薄膜含水率测量方法,选取待测纳米纤维素薄膜制得基样和不同湿度下的试样;利用红外光谱仪分别测得基样的红外光谱图H0和不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的红外光谱图HS;用不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的红外光谱图HS减去基样的红外光谱图H0,得到红外差谱图HS‑0;求得红外差谱图中1600‑1800cm‑1范围内的面积AS‑0;利用干燥法测量不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的含水率MCS;将含水率MCS和面积AS‑0利用最小二乘法线性回归构建基于红外差谱技术的纳米纤维素薄膜含水率测量模型。该模型可用于待测纳米纤维素薄膜含水率的批量测定,每个试样耗时1s,大大缩短了纳米纤维素薄膜含水率的检测时间。本发明具有检测快速、试样需求量少的优点,是一种无损检测技术,可以应用于纳米纤维素薄膜检测领域。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖南;43 |
申请人: |
中南林业科技大学 |
发明人: |
郭鑫;袁寒梦;吴义强 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810391274.6 |
公开号: |
CN108872127A |
代理机构: |
长沙楚为知识产权代理事务所(普通合伙) 43217 |
代理人: |
李大为 |
分类号: |
G01N21/3554(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3554;G01N21/3563 |
申请人地址: |
410004 湖南省长沙市韶山南路498号 |
主权项: |
1.一种基于红外差谱技术的纳米纤维素薄膜含水率测量方法的实验步骤:1)配制基样:在烘箱中放置选定的纳米纤维素薄膜试样,先在60℃低温下烘干2小时,之后将温度调至103±2℃,连续烘干8~10h,期间,每隔1h称量一次,直至最后两次称重之差不超过0.3%,制得基样;2)制备不同湿度下的纳米纤维素薄膜试样:将选定的纳米纤维素薄膜放入恒温恒湿箱,调整湿度,平衡5h,制得不同湿度下的纳米纤维素薄膜试样;3)干燥法测量不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的含水率:利用干燥法测定步骤2)中不同湿度下的纳米纤维素薄膜试样的含水率MCs;4)测定红外差谱图:利用红外光谱仪分别测定步骤1)中基样的红外光谱图H0和步骤2)中不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的红外光谱图HS;用不同湿度下纳米纤维素薄膜试样的红外光谱图HS减去基样的红外光谱图H0,得到红外差谱图HS‑0;求得红外差谱图中1600‑1800cm‑1范围内的面积AS‑0;5)构建基于红外差谱技术的纳米纤维素薄膜含水率测量模型:将步骤3)中不同湿度下的纳米纤维素薄膜试样的含水率MCS和步骤4)中面积AS‑0利用最小二乘法线性回归得到方程:MCS=k×AS‑0,用以计算纳米纤维素薄膜含水率;方程中MCS为纳米纤维素薄膜含水率,AW‑0为红外差谱图中1600‑1800cm‑1范围内的面积,k为不同纳米纤维素薄膜含水率测量的参数;6)测定含水率:利用步骤5)中得到的回归方程,批量测定待测纳米纤维素薄膜试样含水率。 |
所属类别: |
发明专利 |