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一种芯片及待测标志物的分子数量的检测系统
| 专利名称： | 一种芯片及待测标志物的分子数量的检测系统 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片及待测标志物的分子数量的检测系统，包括：芯片、磁珠、反应池；所述芯片包括芯片本体；所述芯片本体的一面包含至少四万个飞升孔，每个所述飞升孔为从所述芯片的第一表面向第二表面凹陷得到的盲孔；所述第一表面与所述第二表面相对；所述飞升孔为圆柱体，底部直径的范围为2um‑10um，高的范围为2um‑10um。当处于复合物合成阶段时，磁珠在反应池中进行反应；当处于检测阶段时，磁珠在芯片的飞升孔内进行反应。本实用新型可以实现每毫升飞克量级的检测，相对传统的ELISA技术，检测灵敏度提高100倍以上。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海澜澈生物科技有限公司 |
| 发明人： | 庄泉洁;刘洪英 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820211866.0 |
| 公开号： | CN207882279U |
| 代理机构： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 |
| 代理人： | 郭桂峰 |
| 分类号： | G01N33/543(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33;G01N33/543 |
| 申请人地址： | 200240 上海市闵行区鹤庆路398号41幢1层I4047室 |
| 主权项： | 1.一种芯片，其特征在于，包括：芯片本体；所述芯片本体的一面包含至少四万个飞升孔，每个所述飞升孔为从所述芯片的第一表面向第二表面凹陷得到的盲孔；所述第一表面与所述第二表面相对；所述飞升孔为圆柱体，底部直径的范围为2um‑10um，高的范围为2um‑10um。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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