专利名称: |
一种基于超声相控阵的微裂纹检测与定位方法及系统 |
摘要: |
本发明涉及一种基于超声相控阵的微裂纹检测与定位方法及系统,其中方法包括:采用低频超声探头在缺陷试件上加载低频激励信号,并采用超声相控阵换能器在所述缺陷试件上加载高频激励信号,且所述低频激励信号与所述高频激励信号相互作用并生成回波信号;采集所述回波信号,并对所述回波信号进行滤波处理;对滤波处理后的所述回波信号进行时间反转仿真处理,得到多个焦点;根据所述多个焦点确定微裂纹的位置。本发明将相控阵技术与振动声调制和时间反转相结合,提出一种微裂纹的检测与定位方法及系统,能广泛应用于不同类型的结构微裂纹的检测与定位,且具有较高识别率和精度,普适性高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
武汉工程大学 |
发明人: |
陈汉新;曹承昊;黄文健;黄瑾珉;杨柳;方璐 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810840696.7 |
公开号: |
CN108872385A |
代理机构: |
北京轻创知识产权代理有限公司 11212 |
代理人: |
杨立;李航 |
分类号: |
G01N29/04(2006.01)I;G01N29/07(2006.01)I;G01N29/12(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/04;G01N29/07;G01N29/12;G01N29/44 |
申请人地址: |
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号 |
主权项: |
1.一种基于超声相控阵的微裂纹检测与定位方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:采用低频超声探头在缺陷试件上加载低频激励信号,并采用超声相控阵换能器在所述缺陷试件上加载高频激励信号,且所述低频激励信号与所述高频激励信号相互作用并生成回波信号;步骤2:采集所述回波信号,并对所述回波信号进行滤波处理;步骤3:对滤波处理后的所述回波信号进行时间反转仿真处理,获取多个焦点;步骤4:根据所述多个焦点确定微裂纹的位置。 |
所属类别: |
发明专利 |