专利名称: |
基于荧光材料的无损检测方法 |
摘要: |
本发明提供一种基于荧光材料的无损检测方法,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层;2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面;3)采集激发的荧光信号换算处理为待测产品表面的形态信息,本发明的无损检测方法可通过在待测产品表面覆盖荧光剂层通过非平行激发光激发获得对应的荧光信号从而获得被测产品的表面形态信息。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
吉林;22 |
申请人: |
薛笑杰 |
发明人: |
薛笑杰 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810308348.5 |
公开号: |
CN108562565A |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/95 |
申请人地址: |
130000 吉林省长春市经济技术开发区临河风景小区16栋503 |
主权项: |
1.基于荧光材料的无损检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层;2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面;3)采集激发的荧光信号换算处理获得待测产品的表面信息。 |
所属类别: |
发明专利 |