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基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法
| 专利名称： | 基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法，涉及无损检测信号处理领域，包括：接收输入的缺陷特征信号，其中所述缺陷特征信号包含缺陷引起的Bz信号和外界因素引起的噪声信号；对所述缺陷特征信号求一阶导数，并同时判断所述一阶导数是否大于零；如果是，将所述一阶导数乘以大于1的数N0，并输入到低通滤波器；如果否，将所述一阶导数乘以小于1的正数M0，并输入到低通滤波器；判断所述低通滤波器输出的缺陷判别信号是否大于等于预设阀值P0；如果是，判断有缺陷存在；如果否，判断缺陷不存在。本发明通过对缺陷特征信号进行处理，得到单一明显峰值的缺陷判别信号，进一步实现缺陷判别的直观性的实时判别。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 中国石油大学（华东） |
| 发明人： | 袁新安;李伟;陈国明;杨伟超;刘向阳;蒋维宇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810033298.4 |
| 公开号： | CN108562638A |
| 分类号： | G01N27/82(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/82 |
| 申请人地址： | 266580 山东省青岛市黄岛区长江西路66号中国石油大学（华东） |
| 主权项： | 1.基于交流电磁场检测技术的缺陷判别方法，应用于基于交流电磁场检测技术的缺陷特征信号，其特征在于，包括：接收输入的缺陷特征信号，其中所述缺陷特征信号包含缺陷引起的Bz信号和外界因素引起的噪声扰动信号；对所述缺陷特征信号求一阶导数，并同时判断所述一阶导数是否大于零；如果是，将所述一阶导数乘以大于1的数N0，并输入到低通滤波器；如果否，将所述一阶导数乘以小于1的正数M0，并输入到低通滤波器；判断所述低通滤波器输出的缺陷判别信号是否大于等于预设阀值P0；如果是，判断有缺陷存在；如果否，判断缺陷不存在。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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