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一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法
| 专利名称： | 一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法，将位移传感器安装在微型薄膜试件的夹持部分；对微型薄膜试件进行疲劳加载，通过位移传感器记录在每个循环内的最大位移和最小位移，分别记为Dmax、Dmin；计算Dmax和Dmin的差值记为ΔD，先在某些循环内找稳定，再将稳定的ΔD值作为裂纹评估参量，得到ΔD随着循环数的变化情况，将该值作为评估微型薄膜试件缺口部位危险点附近疲劳裂纹的萌生与扩展情况；考察裂纹评估参量ΔD的值，当裂纹评估参量ΔD超过某一判别参数时，表征微型薄膜试件缺口部位危险点附近有裂纹萌生；本方法能够准确地监测微型薄膜试件疲劳裂纹的萌生情况。同时，本方法操作方便，实用性强，有很大的工程实用潜力。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 尚德广;吕帅;张海萌;张宇;李道航;李冰垚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810248226.1 |
| 公开号： | CN108593469A |
| 代理机构： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
| 代理人： | 沈波 |
| 分类号： | G01N3/32(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/32;G01N3/06 |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 1.一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法，其特征在于：该方法的实现包括如下过程：步骤1)将位移传感器安装在微型薄膜试件的夹持部分；步骤2)对微型薄膜试件进行疲劳加载，通过位移传感器记录在每个循环内的最大位移和最小位移，分别记为Dmax、Dmin；步骤3)计算Dmax和Dmin的差值ΔDn+1，先在800‑1500个循环内找稳定，即：Δn＝ΔDn+1‑ΔDm，m＝k时n＝k,k+1,k+2,...,n，Δn的值在800‑1500个循环内的值基本在同一个数量级，则将ΔDm记为稳定值，则将ΔDm值作为裂纹评估参量；将ΔDm值作为评估微型薄膜试件缺口部位危险点附近疲劳裂纹的萌生与扩展情况；步骤4)考察裂纹评估参量ΔDm的值；Δn＝ΔDn+1‑ΔDm，m＝k时n＝k,k+1,k+2,...,n当Δn大于等于在800‑1500个循环内的同一数量级数中的最大值时，表征微型薄膜试件缺口部位危险点附近有裂纹萌生。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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