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原文传递 一种基于激光加热的高升温率热重分析系统及方法
专利名称: 一种基于激光加热的高升温率热重分析系统及方法
摘要: 本发明属于化学测试系统领域,涉及一种基于激光加热的高升温率热重分析系统及方法,解决了现有技术存在的加热速率慢、加热温度不准确,不能满足材料在高升温率、高温下进行热重分析的问题。本发明的分析系统包括加热部分、测量部分和计算机;加热部分包括激光器、微透镜阵列、透镜、石墨、半反半透镜和全反镜组;测量部分包括热像仪、密封箱和电子天平;激光器提供的激光光束依次经过微透镜阵列、透镜和石墨;从石墨出射的激光经过半反半透镜,一部分辐照到待测件的前表面,另一部分辐照在待测件的后表面;热像仪分别监测待测件前表面、后表面的温升;电子天平用于对待测件称重;计算机同步采集、记录激光器参数、热像仪和电子天平的读数。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 陕西;61
申请人: 西北核技术研究所
发明人: 王家伟;朱永祥;韦成华;王立君;吴涛涛;刘卫平;马志亮
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810433631.0
公开号: CN108593483A
代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人: 陈广民
分类号: G01N5/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N5;G01N5/00
申请人地址: 710024 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
主权项: 1.一种基于激光加热的高升温率热重分析系统,其特征在于:包括加热部分、测量部分和计算机(13);加热部分包括激光器(1)、微透镜阵列(2)、透镜(3)、石墨(4)、半反半透镜(5)和全反镜组(6);微透镜阵列(2)的数量为两个,分为第一微透镜阵列(201)和第二微透镜阵列(202);石墨(4)用于限定激光光束的尺寸;测量部分包括热像仪(7)、密封箱(8)和电子天平(11);电子天平(11)位于密封箱(8)内;待测件(14)放置在电子天平(11)上;热像仪(7)的数量为两个,分为第一热像仪(701)和第二热像仪(702);所述密封箱(8)的前表面设有前锗窗口(901)和前玻璃窗口(1001),密封箱(8)的后表面设有后锗窗口(902)和后玻璃窗口(1002),密封箱(8)的两个侧面分别设有进气管(12)和出气管(15);所述激光器(1)用于提供激光光源,激光光束依次经过第一微透镜阵列(201)、第二微透镜阵列(202)、透镜(3)和石墨(4);从石墨(4)出射的激光光束经过半反半透镜(5),一部分激光光束依次穿过半反半透镜(5)和前玻璃窗口(1001)后辐照到待测件(14)的前表面,另一部分激光光束被半反半透镜(5)反射到全反镜组(6)上,经全反镜组(6)反射的激光光束穿过后玻璃窗口(1002)后辐照在待测件(14)的后表面;第一热像仪(701)和第二热像仪(702)分别透过前锗窗口(901)和后锗窗口(902)监测待测件(14)前表面、后表面在激光辐照下的温升;电子天平(11)用于对待测件(14)称重;计算机(13)同步采集、记录激光器(1)参数、热像仪(7)和电子天平(11)的读数。
所属类别: 发明专利
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