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原文传递 一种样品烧失量的测定方法
专利名称: 一种样品烧失量的测定方法
摘要: 本发明是关于一种样品烧失量的测定方法,包括,步骤一,称取待测样品、熔剂,将待测样品与熔剂置于坩埚中;步骤二,将坩埚在第一预设温度下进行第一灼烧,得到熔体;步骤三,将坩埚在空气中冷却至室温,得到玻璃体,称量坩埚与玻璃体的总质量,LOI=(Ws+Wf+W1‑W2)/Ws,其中,LOI为待测样品的烧失量,Ws为待测样品的质量,Wf为熔剂的质量,W1为坩埚的质量,W2为坩埚与玻璃体的总质量。该方法,通过添加氧化剂和熔剂,排除了样品中还原组分对测定结果的影响,提高了样品的灼烧速率,提高了冷却速率和检测结果的准确性,简化了检测过程。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 中国建材检验认证集团股份有限公司
发明人: 刘玉兵;韩蔚;戴平;卢娟娟;马振珠;邓赛文
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810398889.1
公开号: CN108896428A
代理机构: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348
代理人: 王伟锋;刘铁生
分类号: G01N5/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N5;G01N5/04
申请人地址: 100024 北京市朝阳区管庄东里1号
主权项: 1.一种烧失量的测定方法,其特征在于:包括,步骤一,称取待测样品、熔剂,将待测样品与熔剂置于坩埚中;步骤二,将坩埚在第一预设温度下进行第一灼烧,得到熔体;步骤三,将坩埚在空气中冷却至室温,得到玻璃体,称量坩埚与玻璃体的总质量,LOI=(Ws+Wf+W1‑W2)/Ws,其中,LOI为待测样品的烧失量,Ws为待测样品的质量,Wf为熔剂的质量,W1为坩埚的质量,W2为坩埚与玻璃体的总质量。
所属类别: 发明专利
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