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应用于X射线荧光光谱仪中的智能进样系统
| 专利名称： | 应用于X射线荧光光谱仪中的智能进样系统 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种应用于X射线荧光光谱仪中的智能进样系统，包括：控制机构和进样机构，其中所述控制结构与所述进样机构电连接；其中所述进样机构包括仓储机构、取样机构以及识别机构，所述识别机构至少用以扫描并识别仓储结构上的样品并将信息传输至控制结构，所述取样机构至少用以提取样品，所述仓储机构至少用以存储样品，并至少使所述仓储机构的样品在所述识别机构的识别范围内；控制结构，至少用于对所述进样机构进行控制。应用于X射线荧光光谱仪中的智能进样系统，结构简单，易于操作，节约了人力物力，缩短了工作时间，提高了工作效率，解决了人工放样的问题并且缩短人跟随仪器的测试时间，可以实现了大量的样品的自动测试。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 苏州三值精密仪器有限公司 |
| 发明人： | 杨振 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201720678783.8 |
| 公开号： | CN206832712U |
| 代理机构： | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 |
| 代理人： | 王锋 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G01N23/22(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223;G01N23/22 |
| 申请人地址： | 215000 江苏省苏州市吴中区金枫南路1258号B1幢 |
| 主权项： | 一种应用于X射线荧光光谱仪中的智能进样系统，其特征在于包括：控制机构和进样机构，其中所述控制机构与所述进样机构电连接；其中所述进样机构包括仓储机构、取样机构以及识别机构，所述识别机构至少用以扫描并识别仓储结构上的样品并将信息传输至控制机构，所述取样机构至少用以提取仓储机构内的样品，所述仓储机构至少用以存储样品，并至少使所述仓储机构的样品在所述识别机构的识别范围内；控制机构，至少用于对所述进样机构进行控制。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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