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双光谱烟气汞分析装置及相应的方法
| 专利名称： | 双光谱烟气汞分析装置及相应的方法 |
| 摘要： | 本公开公开了一种双光谱烟气汞分析装置及相应的方法，所述双光谱烟气汞分析装置包括：光源、气室、光探测器和控制模块，其中：所述气室用于存放被测气体；所述光源放置于所述气室的一侧，用于发出测量光波照射所述气室；所述光探测器为两个或多个，放置于所述气室的不同侧，并与控制模块连接，用于检测透过气室的测量光波，并将检测数据发送给所述控制模块。本公开技术方案综合利用多种测量方法，能够准确测得烟气中汞的含量，具有结构简单、测量结构准确等优点，可在汞含量在线检测中广泛应用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 南京工程学院 |
| 发明人： | 张健;沈卫康;余辉龙;覃翠;赵静;魏峘 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810488995.9 |
| 公开号： | CN108896519A |
| 代理机构： | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 |
| 代理人： | 刘真 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/31 |
| 申请人地址： | 211167 江苏省南京市江宁区江宁科学园弘景大道1号 |
| 主权项： | 1.一种双光谱烟气汞分析装置，其特征在于，所述双光谱烟气汞分析装置包括：光源、气室、光探测器和控制模块，其中：所述气室用于存放被测气体；所述光源放置于所述气室的一侧，用于发出测量光波照射所述气室；所述光探测器为两个或多个，放置于所述气室的不同侧，并与控制模块连接，用于检测透过气室的测量光波，并将检测数据发送给所述控制模块。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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