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一种多孔介质微观结构的测量方法
| 专利名称： | 一种多孔介质微观结构的测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种多孔介质微观结构的测量方法，包括以下步骤：确定不同能量通道范围内对应的滤波片材料和厚度、获取多孔介质在多个能量通道下的投影数据、分别重建每个能量通道对应的多孔介质的图像、基于多个能量通道下的重建图像获取多孔介质微观结构表征；本发明利用传统CT实现了能谱CT的功能，能同时获取物质在不同能量通道下的图像，将材料差别最大化，实现重建图像的物质识别，节约成本；弥补了单能图像分割方法的不足，且可以在每个体素内得到对应基材料成分的体分比，实现物质更小尺度的结构信息表征，有效提高重建图像的分辨率，使得多孔介质的微观结构图中孔隙结构的区分更明显。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山西;14 |
| 申请人： | 中北大学 |
| 发明人： | 孔慧华;李毅红;潘晋孝;陈平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810584258.9 |
| 公开号： | CN108896588A |
| 代理机构： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 |
| 代理人： | 赵欣 |
| 分类号： | G01N23/046(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/046 |
| 申请人地址： | 030051 山西省太原市尖草坪区学院路3号 |
| 主权项： | 1.一种多孔介质微观结构的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、依据检测对象的组分、外形尺寸及能量通道范围，确定不同能量通道范围内对应的滤波片材料和厚度；S2、分别将不同的滤波片设置在CT的射线发射端，通过滤波获取多孔介质在多个能量通道下的投影数据；S3、根据多个能量通道下的投影数据分别重建每个能量通道对应的多孔介质的图像；S4、基于多个能量通道下的重建图像获取多孔介质微观结构表征。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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