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通过色谱重建检测低含量LCMS组分
| 专利名称： | 通过色谱重建检测低含量LCMS组分 |
| 摘要： | 一种用于分析样本的方法可包含获得对应于样本内的高丰度化合物的滞留时间和质荷比范围的排除列表；使用色谱柱分离所述样本的组分；使用质量分析器获得第一质量数据集，同时排除在所述排除列表的滞留时间和质荷比范围内的离子；产生所述第一质量数据集的特征的包含列表；将对应于所述包含列表的特征的离子碎片化；从所述碎片化的离子获得第二质量数据集；以及基于所述第二质量数据集识别和/或量化低丰度化合物。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 发明人： | I·莫塔什米;T·斯特拉顿;M·A·布兰克 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810088235.9 |
| 公开号： | CN108375643A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 分类号： | G01N30/06(2006.01)I;G01N30/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N30;G01N30/06;G01N30/88 |
| 申请人地址： | 美国加利福尼亚州 |
| 主权项： | 1.一种用于分析样本的方法，包括：执行全谱扫描以识别对应于样本内的高丰度化合物的滞留时间和质荷比范围；产生所述滞留时间和质荷比范围的排除列表使用色谱柱分离所述样本的组分；使用所述质量分析器获得第一质量数据集，同时排除发射在所述排除列表的滞留时间和质荷比范围内的离子；产生所述第一质量数据集的特征的包含列表，所述包含列表包含所述全谱扫描中未检测到的低丰度化合物；使对应于所述包含列表的特征的离子碎片化；从所述碎片化的离子获得第二质量数据集；以及基于所述第二质量数据集识别和/或量化所述低丰度化合物。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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