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一种磁路材料外观检测的光学装置
| 专利名称： | 一种磁路材料外观检测的光学装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机相连的图像处理器，所述相机的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体外围的反光镜、用于给所述反光镜提供光源的背光板、用于将所述反光镜的反射光折射至所述相机镜头的分光镜，所述分光镜发出的光束与相机的光轴平行的同轴光线；所述分光镜与所述反光镜之间还设置有改变光线折射率的回字元件。通过反光镜、分光镜的使用，使得一个相机能够对待测物体的五个部分同时进行拍摄，并通过回字元件让“回”字形最内侧“口”和外围“口”的补集区域的折射率不同，通过折射率之间的差异来计算景深差距，解决待测物体景深不一致问题。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 科为升视觉技术（苏州）有限公司 |
| 发明人： | 张振;蔡园园 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820036535.8 |
| 公开号： | CN207717650U |
| 代理机构： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 |
| 代理人： | 张欢勇 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95 |
| 申请人地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路99号D312-313室 |
| 主权项： | 1.一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机(3)相连的图像处理器，所述相机(3)的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体(6)外围的反光镜(4)、用于给所述反光镜(4)提供光源的背光板(1)、用于将所述反光镜(4)的反射光折射至所述相机(3)镜头的分光镜(2)，所述分光镜(2)发出的光束与相机(3)的光轴平行的同轴光线；其特征在于：所述分光镜(2)与所述反光镜(4)之间还设置有改变光线折射率的回字元件(5)。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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