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原文传递 一种轴类零件粗抛光瓦检测治具
专利名称: 一种轴类零件粗抛光瓦检测治具
摘要: 本实用新型涉及一种轴类零件粗抛光瓦检测治具,用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,抛光瓦上设置有凹面,该凹面安装有金刚砂,包括底座,底座上设置有两个相对设置的支架组件、两端分别安装在两个支架组件上的滚筒、设置在滚筒两侧用于固定抛光瓦的固定组件,抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面,在滚筒的一端设置有转动把手。本实用新型可检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,检测出抛光瓦的品质,筛选品质差的抛光瓦,从而保证抛光瓦的抛光效果。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 惠州申普实业有限公司
发明人: 黄锡祥
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201721097381.5
公开号: CN207586110U
代理机构: 惠州创联专利代理事务所(普通合伙) 44382
代理人: 韩淑英
分类号: G01N19/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N19;G01N19/08
申请人地址: 516221 广东省惠州市惠阳区秋长维布村
主权项: 1.一种轴类零件粗抛光瓦检测治具,用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况,抛光瓦上设置有凹面,该凹面布有金刚砂,其特征在于,包括底座(1),所述底座上固定有两个相对设置的支架组件(2)、两端分别安装在两个支架组件上的滚筒(3)、设置在滚筒两侧用于固定抛光瓦的固定组件(4),抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面,在滚筒的一端设置有把手(31)。
所属类别: 实用新型
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