专利名称: |
用于产品纹理分类的测量装置及测量方法 |
摘要: |
本发明涉及一种用于产品纹理分类的测量装置及测量方法,装置包括:定位机构,设有供待测产品放置的定位部;线光源机构,从不同方向对定位部上的待测产品表面发射高亮线状光线进行打光;以及取像机构,与定位机构相对,对待测产品进行取像,将待测产品的纹理线颜色处理加深,光滑面处变亮,利用加深的纹理线把待测产品的表面分割成不同区域,以根据待测产品的纹理区分分类。定位机构可以供待测产品稳定放置,线光源机构采用高亮线光源打光,使用少量的光源便可以达到预期所需的打光效果,进而使测量装置的结构更简单,节约了所占空间。取像机构对打光后的待测产品进行取像,从而分析纹理,进行测量分类,提升测量效率,提高产品质量的准确性。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市智信精密仪器有限公司 |
发明人: |
朱芳程;刘浩 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810805729.4 |
公开号: |
CN108918553A |
代理机构: |
深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 |
代理人: |
杨波;郭方伟 |
分类号: |
G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/956 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层 |
主权项: |
1.一种用于产品纹理分类的测量装置,其特征在于,包括:定位机构(1),设有供待测产品(4)放置的定位部(11);线光源机构(2),从不同方向对所述定位部(11)上的待测产品(4)表面发射高亮线状光线进行打光;以及取像机构(3),与所述定位机构(1)相对,对所述待测产品(4)进行取像,将所述待测产品(4)的纹理线颜色处理加深,光滑面处变亮,利用加深的纹理线把所述待测产品(4)的表面分割成不同区域,以根据所述待测产品(4)的纹理进行分类。 |
所属类别: |
发明专利 |