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发光材料力致发光性能的检测装置
| 专利名称： | 发光材料力致发光性能的检测装置 |
| 摘要： | 发光材料力致发光性能的检测装置，包括暗箱、载物台、紫外灯、压力信号监测系统、光信号监测系统；暗箱包括内层暗箱、外层暗箱，内层暗箱放置在外层暗箱底部的一侧；紫外灯设于外层暗箱内且位于内层暗箱的上方；压力传感器设于外层暗箱内，并正对于外层暗箱上方的施力口，压力信号输出端安装于外层暗箱的外壁上，压力传感器、压力变送器、压力信号输出端依次电连接；载物台设于内层暗箱的上方，载物台上开设有试样安装槽，试样安装槽和外层暗箱上方的施力口、压力传感器同轴心。本发明具有同时同步监测、记录机械激发力的压力信号和产生的光信号，监测结果较为精准等优点。本发明属于检测技术领域。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 华南理工大学 |
| 发明人： | 潘志东;吕海涛;苏洪炎;李萍;王燕民 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810095627.8 |
| 公开号： | CN108398420A |
| 代理机构： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
| 代理人： | 黄磊 |
| 分类号： | G01N21/70(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/70;G01N21/01 |
| 申请人地址： | 510640 广东省广州市天河区五山路381号 |
| 主权项： | 1.发光材料力致发光性能的检测装置，其特征在于：包括暗箱、载物台、紫外灯、压力信号监测系统、光信号监测系统；暗箱包括内层暗箱、外层暗箱，内层暗箱放置在外层暗箱底部的一侧；紫外灯设于外层暗箱内且位于内层暗箱的上方；压力信号监测系统包括压力传感器、压力变送器、压力信号输出端，压力传感器设于外层暗箱内，并正对于外层暗箱上方的施力口，压力信号输出端安装于外层暗箱的外壁上，压力传感器、压力变送器、压力信号输出端依次电连接；载物台设于内层暗箱的上方，载物台上开设有试样安装槽，试样安装槽和外层暗箱上方的施力口、压力传感器同轴心；光信号监测系统包括光信号接收端、光信号输出端，光信号接收端和光信号输出端电连接，内层暗箱的上面设有圆孔，光信号接收端设于内层暗箱内并正对于圆孔，圆孔和试样安装槽对齐。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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