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原文传递 一种检测聚合物粘结炸药热稳定性的方法
专利名称: 一种检测聚合物粘结炸药热稳定性的方法
摘要: 本发明公开了一种检测聚合物粘结炸药热稳定性的方法,其特征在于:检测聚合物粘结炸药微结构的热稳定性。该方法,包括如下步骤:将成型PBX炸药制备成片状PBX样品,在适当q范围进行原位变温中子或X光子小散射实验,获得散射中子或X光子计数率随温度的变化曲线,然后通过分析散射中子或X光子计数率随温度的相对和绝对变化来判断PBX炸药微结构的热稳定特性。该方法能够检测出PBX中少量相对整体微结构热稳定性的影响,是一种检测复杂多组分PBX材料微结构热稳定性的有效方法。该方法给出的散射中子或X光子计数率随温度的变化,是深入研究PBX炸药微观结构热稳定性与各类宏观性能之间“构效”关系的重要基础。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 四川;51
申请人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
发明人: 白亮飞;闫冠云;田强;孙光爱;龚建;刘渝;庞蓓蓓;陈良;孙良卫;彭梅
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810274545.X
公开号: CN108414552A
代理机构: 中国工程物理研究院专利中心 51210
代理人: 翟长明;韩志英
分类号: G01N23/201(2018.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/201;G01N1/28
申请人地址: 621999 四川省绵阳市919信箱218分箱
主权项: 1.一种检测聚合物粘结炸药热稳定性的方法,其特征在于:所述的方法包括如下步骤:将成型PBX炸药制备成0.01mm~50mm厚度的片状PBX样品,优选0.1 mm~10mm;然后将片状PBX样品置于带有原位变温装置的中子或X光子小散射谱仪样品处;然后在4K~573K温度范围、0.01K/min~1000 K/min的升温速率和0.0002nm‑1~10 nm‑1的散射矢量q范围下对所述PBX样品开展原位变温的小角散射实验,采集记录样品处温度和探测器上所有散射中子或X光子计数随时间的变化;然后将所述所有散射中子或X光子计数随着时间的变化按照0.001s~36000s的时间间隔转化为散射中子或X光子计数率随时间的变化曲线,优选0.1s~3600s;然后将所述散射中子或X光子计数率随时间的变化曲线转化为散射中子或X光子计数率随温度的变化曲线;然后分析所述散射中子或X光子计数率随温度的变化则可得PBX炸药微结构的热稳定特性。
所属类别: 发明专利
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