专利名称: |
等离子体-质谱分析系统及其工作方法 |
摘要: |
本发明提供了一种等离子体‑质谱分析系统及其工作方法,所述等离子体‑质谱分析系统包括质谱分析仪、真空单元;矩管,所述矩管的出口竖直向上;取样锥,所述取样锥设置在所述矩管的离子出射方向上;第一阀门,所述第一阀门设置在所述离子出射方向上,且处于所述取样锥的下游;离子偏转单元,所述粒子偏转单元设置在离子出射方向上,且处于第一阀门的下游,经过所述离子偏转单元后,离子偏转角度α;第二阀门,所述第二阀门设置在经过所述离子偏转单元偏转后的离子方向上。本发明具有检测精度高等优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
杭州谱育科技发展有限公司 |
发明人: |
俞晓峰;韩双来;梁炎;徐岳 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201711490627.X |
公开号: |
CN108152358A |
分类号: |
G01N27/62(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I;H01J49/04(2006.01)I;H01J49/10(2006.01)I;G;H;G01;H01;G01N;H01J;G01N27;H01J49;G01N27/62;G01N27/64;H01J49/04;H01J49/10 |
申请人地址: |
310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号1号楼B座403室 |
主权项: |
一种等离子体‑质谱分析系统,所述等离子体‑质谱分析系统包括质谱分析仪;其特征在于:所述等离子体‑质谱分析系统进一步包括:矩管,所述矩管的出口竖直向上;取样锥,所述取样锥设置在所述矩管的离子出射方向上;第一阀门,所述第一阀门设置在所述离子出射方向上,且处于所述取样锥的下游;离子偏转单元,所述粒子偏转单元设置在离子出射方向上,且处于第一阀门的下游,经过所述离子偏转单元后,离子偏转角度α;第二阀门,所述第二阀门设置在经过所述离子偏转单元偏转后的离子方向上。 |
所属类别: |
发明专利 |