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低轨长寿命载人航天器的在轨测试方法
| 专利名称： | 低轨长寿命载人航天器的在轨测试方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种低轨长寿命载人航天器的在轨测试方法，包括以下步骤：a.对航天器进入飞行轨道后进行的在轨测试；b.对航天器开展交会对接及补加任务前进行的在轨测试；c.对航天器自主飞行期间进行的在轨测试。根据本发明的低轨长寿命载人航天器的在轨测试方法可以针对不同飞行阶段以及执行不同任务制定有针对性的测试项目并开展多项在轨测试。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京空间技术研制试验中心 |
| 发明人： | 程伟;杨宏;梁克;张璐;南洪涛;于世强;王静华;陈朝基;王悦;张旭 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810147361.7 |
| 公开号： | CN108408087A |
| 代理机构： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 |
| 代理人： | 陆鑫;延慧 |
| 分类号： | B64G3/00(2006.01)I;G01D21/02(2006.01)I;B;G;B64;G01;B64G;G01D;B64G3;G01D21;B64G3/00;G01D21/02 |
| 申请人地址： | 100094 北京市海淀区友谊路104号院 |
| 主权项： | 1.一种低轨长寿命载人航天器的在轨测试方法，包括以下步骤：a.对航天器进入飞行轨道后进行的在轨测试；b.对航天器开展交会对接及补加任务前进行的在轨测试；c.对航天器自主飞行期间进行的在轨测试。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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