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原文传递一种纳米结构磁性测量装置

专利名称：	一种纳米结构磁性测量装置
摘要：	本发明涉及物理测量技术领域，一种纳米结构磁性测量装置，包括激光器、分束器、凸透镜I、光电探测器、锁相放大器、棱镜偏振器、凸透镜II、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、凸透镜III、波片I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁铁、样品台、信号发生器、示波器、波片II、凸透镜IV、平面镜，样品、磁铁及样品台依次位于探针正下方，探针为圆台形状，探针中的通孔I和通孔II的轴线分别位于探针圆台轴线的两侧、且均与探针圆台轴线成45度角，保偏光纤I具有慢轴和快轴，棱镜偏振器的透射轴与保偏光纤I的慢轴平行，保偏光纤I的慢轴位于电光调制器的横磁轴和横电轴之间夹角的角平分线上，电光调制器的横磁轴与保偏光纤II的慢轴平行。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	金华职业技术学院
发明人：	索奕双
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810429274.0
公开号：	CN108414452A
分类号：	G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21
申请人地址：	321017 浙江省金华市婺州街1188号
主权项：	1.一种纳米结构磁性测量装置，主要包括激光器、分束器、凸透镜I、光电探测器、锁相放大器、棱镜偏振器、凸透镜II、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、凸透镜III、波片I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁铁、样品台、信号发生器、示波器、波片II、凸透镜IV、平面镜，激光器的波长在400纳米到800纳米范围可调，xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面，zx平面与水平面垂直，原子力显微镜位于透镜台下方，探针位于原子力显微镜下方，所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状，所述圆台的上底面直径为3微米、下底面直径为1.5微米，所述圆台轴线方向与水平面垂直，样品、磁铁及样品台依次位于探针的正下方，波片I为半波片，波片II为1/4波片，其特征是：所述探针中具有通孔I和通孔II，所述通孔I、通孔II的轴线和探针圆台的轴线均位于zx平面内，所述通孔I和通孔II的轴线分别位于探针圆台轴线的两侧、且均与所述探针圆台轴线成45度角，光电探测器与锁相放大器电缆连接，信号发生器、示波器分别电缆连接样品台，保偏光纤I具有慢轴和快轴，棱镜偏振器的透射轴与保偏光纤I的慢轴平行，保偏光纤I的慢轴位于电光调制器的横磁轴和横电轴之间夹角的角平分线上，电光调制器的横磁轴与保偏光纤II的慢轴平行。
所属类别：	发明专利