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原文传递 一种利用双转盘高速编带的方法及双转盘高速编带装置
专利名称: 一种利用双转盘高速编带的方法及双转盘高速编带装置
摘要: 一种利用双转盘高速编带的方法及双转盘高速编带装置,其中,该装置包括含有第一碟盘的第一碟盘机构,所述第一碟盘的圆周上设有若干第一置料工位,沿所述第一碟盘的旋转方向依次设置有入料部、测试部、NG排料部和第一植入部,在所述测试部和第一植入部之间的区域所对应的位置设置有第二碟盘机构,第二碟盘机构的第二碟盘与所述第一碟盘在同一平面上,当极性方向有误的元器件运动至测试部和NG排料部之间区域的正对于第二碟盘位置时,该元器件被吹入第二碟盘的对应的第二置料工位后随第二碟盘旋转,实现元器件极性方向的纠正,并从第二植入部植入。本发明具有编带单位元器件耗时更短的、整机编带速度更快、效率更高的优点。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 深圳市标谱半导体科技有限公司
发明人: 段雄斌;何选民
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201711194053.1
公开号: CN107776942A
代理机构: 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297
代理人: 胡清方;彭友华
分类号: B65B15/04(2006.01)I;B;B65;B65B;B65B15;B65B15/04
申请人地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道茶西三围第二工业区B区9、10楼
主权项: 一种利用双转盘高速编带的方法,其特征在于:(S1)、启动第一碟盘机构,控制元器件从入料部进入到第一碟盘的第一置料工位上,元器件随第一碟盘转动;(S2)、元器件随第一碟盘转动至测试部时,所述测试部对元器件进行测试;(S3)测试结果判断:(S31)、若测试结果显示该元器件为NG料,该元器件则随第一碟盘转动至NG排料部并排出;(S32)、若测试结果显示该元器件为合格料且极性方向是正确的,该元器件则随第一碟盘转动,转至第一植入部并实现植入;(S33)、若测试结果显示该元器件为合格料且极性方向是有误的,该元器件则随第一碟盘转动,当该元器件运动至测试部和第一植入部之间区域的正对于第二碟盘位置时,将该元器件被吹入第二碟盘的第二置料工位上,该元器件相对于第二碟盘极性方向则是正确的,该元器件随第二碟盘旋转,并进入第二植入部实现植入。
所属类别: 发明专利
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