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一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法
| 专利名称： | 一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素测定方法，具体步骤为将植物、土壤或沉积物等样品经烘干，研磨过筛网，用锡杯包裹，采用元素分析仪—稳定同位素质谱联用仪检测待测样品。本发明利用He对样品气的分流作用,抑制高碳含量样品中过高的二氧化碳信号，从而实现了对高碳氮比中碳氮同位素比值的快速、精确检测，结果准确，重现性好，效率高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津师范大学 |
| 发明人： | 尚云涛;王义东;陈奕霖;曹佳蕊;杨曦;李勇;李军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810169757.1 |
| 公开号： | CN108445072A |
| 代理机构： | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 |
| 代理人： | 朱红星 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 300387 天津市西青区宾水西道393号 |
| 主权项： | 1.一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法，其特征在于按如下的步骤进行：（1）将植物、土壤或沉积物样品经80℃，24h烘干，研磨过120目筛网；（2）用锡杯包裹待测样品，采用元素分析‑稳定同位素质谱联用仪检测待测样品；元素分析仪的条件为：载气He压强50kPa，进样器He吹扫流量80ml/min，氧气压强15 kPa，氧化炉1020℃，还原炉650℃，柱温箱115℃，氧化管催化剂为镀银氧化钴25克和氯化铬25克，还原管内为颗粒状纯铜，φ 0.7mm50克；（3）δC13检测中稳定同位素质谱仪分析条件为：离子源真空2x10‑6 mBar，离子源电压5KV，载气He压强15psi，分流气He压强27psi；（4）δN15检测中稳定同位素质谱仪分析条件为：离子源真空2x10‑6 mBar，离子源电压5KV，载气He压强15psi，分流气He压强45psi；（5） 在上述条件下对标准品和样品同位素值进行分析，以标准品信号值为横坐标，以标准品标定同位素值为纵坐标建立标准曲线，将样品信号值带入标准曲线，得出样品同位素值；重复检测5次，统计实验结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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