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解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法及质谱仪
| 专利名称： | 解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法及质谱仪 |
| 摘要： | 本发明提供了一种解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法及质谱仪，属于分析仪器技术领域，该方案针对常压敞开式激光质谱仪待测样品于非真空环境离子化所形成的等离子体稳定性低、寿命短的缺点，利用激光对等离子体进行二次或多次辐照，进一步提高等离子体的电离度，提升等离子体中离子浓度，并延长等离子体寿命。从而有效提高检测精度，准确度和信号的信噪比。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 常州英诺激光科技有限公司;江苏微纳激光应用技术研究院有限公司;英诺激光科技股份有限公司 |
| 发明人： | 周云申;秦国双 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810220514.6 |
| 公开号： | CN108445073A |
| 代理机构： | 深圳市精英专利事务所 44242 |
| 代理人： | 任哲夫 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 213000 江苏省常州市武进区常武中路18－69号常州科教城英诺激光大厦18楼 |
| 主权项： | 1.解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法，其特征在于：在一次激光辐照待测样品形成待测等离子体后，再对待测等离子体进行二次或二次以上激光辐照，进一步提高待测等离子体的电离度，提升待测等离子体中离子浓度，延长待测等离子体的寿命。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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