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细颗粒物浓度测量仪的性能试验系统
| 专利名称： | 细颗粒物浓度测量仪的性能试验系统 |
| 摘要： | 本实用新型涉及细颗粒物浓度测量仪的性能试验系统。在该性能试验系统中，在n个不同的细颗粒物浓度下，使被检细颗粒物浓度测量仪进行细颗粒物浓度的测量，其中，n大于或等于3。由此，本实用新型能够可靠地试验被检细颗粒物浓度测量仪的性能。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 发明人： | 安池则之;中川贵司;渡部祥文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820062020.5 |
| 公开号： | CN208187911U |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/06 |
| 申请人地址： | 日本大阪府 |
| 主权项： | 1.一种细颗粒物浓度测量仪的性能试验系统，其特征在于，包括：试验舱，其具有内部空间且具有气密性；细颗粒物产生装置，其用于在所述试验舱内产生细颗粒物；以及细颗粒物净化装置，其用于降低所述试验舱内的所述细颗粒物的浓度，其中，所述性能试验系统被配置为，所述细颗粒物产生装置和所述细颗粒物净化装置动作来使所述试验舱内的细颗粒物浓度改变，并且被检细颗粒物浓度测量仪在n个不同的细颗粒物浓度下进行细颗粒物浓度的测量，其中，n大于或等于3。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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