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大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法
| 专利名称： | 大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法。具体实现步骤为首先绕制高、低压线圈及测试接线，然后进行频率响应测试，接着进行特征信息提取，最后进行参量对比判断。通过本发明提供的大型封闭式单框卷铁心线圈绕制工艺方法，能够提高线圈的可靠性，减少因线圈绕制问题导致的变压器安全隐患。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 西南交通大学 |
| 发明人： | 吴振宇;周利军;郭蕾;江俊飞;李威;高仕斌;严静荷 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810285183.4 |
| 公开号： | CN108956697A |
| 代理机构： | 成都盈信专利代理事务所(普通合伙) 51245 |
| 代理人： | 崔建中 |
| 分类号： | G01N27/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R31/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01R;G01N27;G01R31;G01N27/00;G01R31/00;G01R31/06 |
| 申请人地址： | 611756 四川省成都市高新区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院 |
| 主权项： | 1.大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法，其特征在于，包括：步骤11：在大型单框卷铁心第一心柱上绕制第一低压线圈，在第二心柱上绕制第二低压线圈；步骤12：用频率响应测试仪对第一心柱上第一低压线圈进行频率响应测试，测试频段为1kHz‑1MHz，得到均匀分布序列X1(f)；用频率响应测试仪对第二心柱上第二低压线圈进行频率响应测试，测试频段为1kHz‑1MHz，得到均匀分布序列X2(f)；步骤13：将均匀分布序列X1(f)和X2(f)在同一坐标下绘制成曲线及图块，其中分成三个频段，分别为LF、HF和HF；所述LF、MF和HF的频率分别为1kHz‑100kHz、100kHz‑600kHz和600kHz‑1MHz；针对三个频段分别计算特征参数：幅值极差比σ1和等效缺陷面积比σ2，如下： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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