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原文传递薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置

专利名称：	薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置
摘要：	薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置，它要解决现有用于测试薄膜型热电材料塞贝克系数和电导率的装置存在较大的测量误差的问题。该测试装置包括计算机、隔离管、试样固定平台、两个热电偶探针、样品安装装置、数据采集装置和控制系统，待测薄膜样品安装于固定平台上，固定平台插入隔离管内，计算机与控制系统、数据采集系统相连，在控制系统控制下开启加热棒在待测样品两侧建立预设温度差或加载预设直流电流，数据采集系统传输取样点处温度值及电压信号，计算机计算并交互显示塞贝克系数及电导率。本发明测试装置适用于薄膜型热电材料的测量，测试过程温度与电压测量点保持一致，结构简单，便于加热，有效降低高温热电性能测试成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	黑龙江;23
申请人：	哈尔滨工业大学
发明人：	张广军;吕明达
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810439481.4
公开号：	CN108459046A
代理机构：	哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109
代理人：	侯静
分类号：	G01N25/20(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01R;G01N25;G01R27;G01N25/20;G01R27/02
申请人地址：	150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
主权项：	1.薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置，其特征在于该薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置包括计算机(01)、隔离管(02)、试样固定平台、第一热电偶探针(12a)、第二热电偶探针(12b)、探针架(15)、样品安装装置、数据采集装置(17)和控制系统(16)，所述的试样固定平台由第一陶瓷底座(07a)、中间陶瓷底座(07b)、第二陶瓷底座(07c)和多根不锈钢丝杆(04)组成，第一陶瓷底座(07a)、中间陶瓷底座(07b)和第二陶瓷底座(07c)竖立间隔平行设置，从左至右依次设置第二陶瓷底座(07c)、中间陶瓷底座(07b)和第一陶瓷底座(07a)，多根不锈钢丝杆(04)分别穿过第一陶瓷底座(07a)、中间陶瓷底座(07b)和第二陶瓷底座(07c)，不锈钢丝杆(04)与各陶瓷底座之间通过固定螺母(05)固定形成试样固定平台；样品安装装置设置在第一陶瓷底座(07a)的底座表面上，所述的样品安装装置包括2个支撑电极(09)、2个压紧电极(10)和4个螺杆(06)，其中一个压紧电极(10)内设置有加热棒(25)，每2个螺杆(06)分别穿过一个支撑电极(09)和一个压紧电极(10)分别形成第一锁紧电极和第二锁紧电极，螺杆(06)的一端穿过第一陶瓷底座(07a)通过螺母固定，螺杆(06)的另一端旋紧有螺母使热电材料试样(08)压紧在锁紧电极的支撑电极(09)和压紧电极(10)之间；探针架(15)设置在第二陶瓷底座(07c)的底座表面上，探针架(15)的中部沿轴向设置有隔板(15‑1)，探针架(15)的架体内通过隔板(15‑1)分隔成两个探针腔室，第一热电偶探针(12a)和第二热电偶探针(12b)分别置于两个探针腔室中，每根热电偶探针的热电偶线一端穿过探针架(15)的架顶板(15‑2)，每根热电偶探针的探针一端穿过第二陶瓷底座(07c)和中间陶瓷底座(07b)抵在热电材料试样(08)表面，在每根热电偶探针的表面套设有探针轴套(13)，探针轴套(13)与架顶板(15‑2)之间设置有弹簧(14)，热电偶探针套在弹簧(14)内；带有样品安装装置和探针架(15)的试样固定平台整体置于隔离管(2)中，隔离管(2)的左端管口通过电极法兰(03b)密封，隔离管(2)的右端管口通过密封法兰(03a)密封，第一热电偶探针(12a)的温度信号(18)、第二热电偶探针(12b)的温度信号(19)、两个热电偶探针正极间电压信号(20)、两个热电偶探针负极间电压信号(21)、第一锁紧电极表面的温度信号(22)和第二锁紧电极表面的温度信号(23)通过信号传输线经电极法兰(03b)传导到数据采集卡(17)内；通过控制系统(16)控制加热棒(25)的开闭以及通过压紧电极(10)加载到热电材料试样(08)上的电流大小，数据采集装置(17)和控制系统(16)分别通过数据线与计算机(01)相连。
所属类别：	发明专利